Курсовая работа: Конструкционные расчёты резисторов
K = lnN(1)
где N – общее количество элементов и компонентов в микросхеме.
Величина К округляется до ближайшего целого числа.
Если К 1 – простая интегральная микросхема;
1 К 2 – средняя интегральная микросхема;
2 К 4 – большая интегральная микросхема;
К 4 – сверхбольшая интегральная микросхема;
Плотность упаковки – отношение числа элементов и компонентов микросхемы к её объёму.
Этот показатель характеризует уровень развития технологии.
Достоинства аппаратуры, создаваемой на основе микроэлектронных изделий:
· резкое уменьшение габаритов вновь создаваемых изделий;
· увеличение надёжности;
· повышение ремонтных характеристик;
· более низкая себестоимость изготовления.
По конструктивно – технологическому исполнению интегральные микросхемы подразделяются на: полупроводниковые, плёночные, гибридные.
Полупроводниковые микросхемы - интегральная микросхема, все элементы и межэлементные соединения которой выполнены в объёме и (или) на поверхности полупроводника в едином технологическом цикле методами полупроводниковой технологии. Существует три основные технологии изготовления полупроводниковых микросхем:
· биполярная технология;
· МДП – технология;
· МОП – технология (при дальнейшем развитии – КМОП - технология).
Плёночные микросхемы - интегральная микросхема, все элементы и межэлементные соединения которой выполнены только в виде плёнок методами плёночной технологии.
В зависимости от толщины плёнок и способа их нанесения различают тонкоплёночные (толщина плёнки до 1 мкм) и толстоплёночные (толщина плёнки более 1 мкм) интегральные микросхемы. Качественные различия между тонкоплёночными и толстоплёночными микросхемами заключены в различии технологий их изготовления.
Гибридные микросхемы - интегральная микросхема, в состав которых входят плёночные элементы и компоненты.
Полупроводниковые и тонкоплёночные интегральные микросхемы взаимно дополняют друг друга, пока не созданы микросхемы, в производстве которых использовался только один вид технологии.
Анализ технического задания
В данном курсовом проекте нужно разработать микросборку фотолитографическим способом.
Фотолитографический технологический процесс основан на термовакуумном, ионно-плазменном, катодном, магнетронном напылении нескольких сплошных слоёв из различных материалов с последующим получением конфигурации каждого слоя методом фотолитографии.
Достоинства: высокая точность изготовления и плотность размещения элементов на подложке.
Недостатки: метод фотолитографии нельзя применять для создания многослойных конструкций тонкоплёночных интегральных микросхем, т.к. каждый раз при получении рисунка очередного слоя требуется обработка подложки травильным раствором, что негативно сказывается на других слоях с возможным изменением их электрофизических свойств. После очередной фотохимической обработки требуется тщательная очистка подложки от реактивов, для обеспечения необходимой адгезии последующих осаждаемых слоёв; таким методом можно выполнить рисунок не более чем двух слоёв различной конфигурации т.е. невозможно изготовить тонкоплёночный конденсатор ( кроме танталового ) и осуществить пересечение проводников.
Типовая последовательность формирования плёночных элементов при фотолитографическом методе ( порядок вакуумного осаждения ):
вариант 1