Контрольная работа: Метод граничного сканирования Boundary-Scan
(стандарт IEEE 1149.1)
С середины 70-х годов структурное тестирование печатных плат основывалось на физическом доступе к устройствам и межсоединениям на плате с помощью так называемого «ложа из гвоздей» (рис. 1). С развитием технологии изготовления печатных плат, стали уменьшаться расстояния между соседними медными дорожками – стало более рискованно каждый раз класть плату на гвозди. Появились двухсторонние платы, и инженерам пришлось прикладывать гвозди с двух сторон. Вопрос о физическом доступе был исчерпан с появлением многослойных печатных плат.
Рисунок 1
С такими проблемами столкнулись в середине 80-х большинство производителей. Для поиска возможных решений была создана группа JTAG (Joint Test Action Group), которая с помощью 200 ведущих фирм в течение 5 лет разработала стандарт Boundary-Scan IEEE 1149.1 (IEEE – Institute of Electrical and Electronic Engineers).
В основу принципа была положена концепция размещения последовательного сдвигового регистра по границам устройства (рис. 2) Причем, сами ячейки такого регистра располагаются непосредственно между первичными входами/выходами устройства и логическим ядром.
Рисунок 2
Таким образом, в устройство добавляется 4 контакта: TDI (Test Data In – вход тестовых данных), TDO (Test Data Out – выход тестовых данных), TMS (Test Mode Select – выбор тестового режима) и TCK (Test Clock – тестовая синхронизация).
Рисунок 3.
Сущность механизма сканирования сходна с методом Scan Path. Однако, есть существенные различия. Во-первых, логика ядра может быть любой, в том числе содержать последовательностные структуры (не нужно разбивать устройство на комбинационную часть и память). Во-вторых, ячейки сканирования располагаются как до, так и после логики.
Несколько устройств на плате могут быть объединены в единый последовательный путь сканирования (рис. 3). Это можно сделать путем соединения TDO с TDI следующего устройства. Таким образом, на плате появляется также 4 дополнительных вывода: TDI и TDO, и общие для всех устройств TCK и TMS.
Таким образом, технология граничного сканирования при относительно небольших аппаратурных затратах позволила реализовать нечто вроде «виртуальных гвоздей», что обеспечивает не только 100% наблюдаемость, но и 100% управляемость входов/выходов устройств.
Несомненно, технология Boundary-Scan является значительным прорывом вперед в DFT. Рассмотрим архитектуру устройства, которую описывает стандарт IEEE 1149.1.
Общая схема устройства представлена на рис. 4.
Рисунок 4.
Само устройство, реализующее требуемые функции (которое, как мы видим, может содержать и некие внутренние регистры), помещается в обрамление из тестовой логики, которое составляют:
- Набор из 4 обязательных тестовых ножек: TDI, TDO, TMS и TCK. Также возможно добавление еще одной необязательной тестовой ножки – TR (Test Reset – сброс тестовой логики). Все вместе они называются TAP (Test Access Port – тестовый порт доступа).
- Ячейки граничного сканирования на каждой линии первичного входа или выхода, соединенные между собой, таким образом, чтобы организовать последовательный сдвиговый регистр.
- Однобитный регистр обхода (Bypass register).
- Необязательный 32-битный идентификационный регистр, с возможностью хранения в нем неизменяемого кода устройства.
- Регистр команд (Instruction Register), в котором хранится текущая команда. Разрядность регистра команд должна быть больше или равна 2.
- TAP controller. По сути, это конечный управляющий автомат для тестовой логики.
Как видно из схемы, тестовая логика предоставляет возможность выбирать путь прохождения данных от TDI к TDO: либо через регистр команд (Instruction Register), либо через регистр данных (Data Register). Регистром данных в каждый момент времени может быть один из следующих регистров:
- Последовательный сдвиговый регистр граничного сканирования (Boundary-Scan register).
- Какой-либо внутренний регистр, предусмотренный разработчиком устройства (Internal register).
--> ЧИТАТЬ ПОЛНОСТЬЮ <--