Реферат: Измерения и неразрушающий контроль на железнодорожном транспорте
Дефектоскоп предназначен для выявления внутренних дефектов в изделиях из металлов (трещин, пор, расслоений, непроваров, шлаковых включений и т. д.), определения их координат в сварных и клепаных соединениях.
Прибор является переносным и используется в цеховых и полевых условиях в интервале температуры О-40°С и относительной влажности не более 80 % при 20°С. Работает он на частотах 1,8 и 2,5 МГц как с прямыми, так и с наклонными искательными головками.
Чувствительность прибора регулируется в широких пределах и на частоте 2,5 МГц обеспечивает выявление дефектов, эквивалентных отверстиям в эталоне № 1 при температуре 20°С:
для искательных головок с углами 30 и 40° - отверстия 45 мм;
для искательных головок с углами 50° - отверстия 5 мм.
Минимальная глубина выявления дефектов (мертвая зона прибора) - не более 3 мм для искательных головок с углом падения 50°.
Максимальная глубина прозвучивания - 600 мм (для стали) в режиме «контроль по слоям».
Прибор позволяет вести контроль объекта в двух режимах работы:
контроль по слоям;
контроль от поверхности.
При контроле по слоям задержка развертки по времени плавно регулируется в пределах от 12 до 100 мкс. Длительность развертки регулируется в пределах от 20 до 100 мкс.
В приборе ДУК-13ИМ имеется электронный глубиномер со шкалами прямого отсчета координат залегания дефектов и шкалой отсчета времени прохождения ультразвука в микросекундах. Шкала «МКС» используется для определения координат дефектов при контроле изделий из материалов со скоростью ультразвука, отличной от скорости ультразвука в стали СтЗ.
Прибор комплектуется прямой искательной головкой для прозвучивания объектов продольными волнами на частоте 2,5 МГц и призматическими головками с углами падения УЗК 30, 40 и 50° - для прозвучивания объекта питания прибора является сеть переменного тока напряжением 220 В частотой поперечными волнами на частотах 1,8 и 2,5 МГц.
Индикация дефектов производится при появлении сигналов в телефоне и импульса на экране электронно-лучевой трубки (ЭЛТ).
Источником 50 - 60 Гц.
II . АКУСТИКОЭМИССИОННЫЙ КОНТРОЛЬ РЕЖИМОВ ШЛИФОВАНИЯ
2.1. Краткие теоретические сведения
Одним из наиболее перспективных методов неразрушающего контроля (применительно к контролю технологических процессов) является метод акустической эмиссии (АЭ).
Особое значение имеет использование метода АЭ для оперативного контроля абразивной обработки, среди многообразия видов которой наиболее широко распространено шлифование. Контроль методом АЭ по своим возможностям не имеет аналогов, поскольку позволяет оценить ряд параметров качества обработки (шероховатость, некруглость, волнистость детали, режущую способность круга) непосредственно в процессе шлифования.
2.1.1. Принципы АЭ-контроля шлифования
Рабочие контакты единичных режущих зерен шлифовального круга с поверхностью обрабатываемой детали генерируют сигналы АЭ. Энергия акустического сигнала зависит от количества единичных врезаний, т. е. связана с реальной производительностью обработки. Это дает возможность по изменениям сигнала АЭ судить о выходных характеристиках шлифования, связанных с мгновенным объемом металла (режущей способностью круга, некруглостью, волнистостью детали).
Аппаратура регистрации сигнала АЭ при шлифовании включает в себя датчик (пьезопреобразователь), преобразующий механические колебания в
электрический сигнал; предварительный усилитель; узкополосный фильтр с центральной частотой,/; детектирующее звено; самописец. В настоящей работе роль предусилителя, фильтра и детектора выполняет селективный микровольтметр. На самописце записывается интенсивность узкополосной составляющей сигнала I / t ).
В условиях круглого врезного шлифования (при вращении детали) регистрация сигнала (рис. 2.1) производится путем поджима датчика 3 к поверхности детали 2. Для уменьшения трения между датчиком и деталью используется тифлоновая пробка. Благодаря кулисному механизму поджима 4 уменьшение диаметра детали
d = do -2 tp (2.1)
где d 0 - диаметр заготовки, мм;
?р - припуск, мм,
не сказывается на плотности контакта датчика с обрабатываемой поверхностью.