Реферат: Качество обработанной поверхности
В плоскости изображения объектива 3 микроскопа А расположена перпендикулярно плоскости оси микроскопа щель 2 с освещением от источника света 1. Объектив 3, уменьшая, дает изображение а1 щели 2на проверяемой плоскости Р в виде узкой светящейся линии. При отсутствии на участке поверхности Рмикронеровностей объектив 4 микроскопа Б в плоскости сетки окуляра 5 даст изображение а2 той же узкой светящейся линии, а также изображение близлежащего участка исследуемой поверхности.
При том же расположении микроскопов А и Б при наличии микронеровностейh часть пучка света, отраженная от участка поверхности Р1 , при наблюдении будет казаться выходящей из точки а1 или из точки а'1 поверхности Р'1 , расположенной на расстоянии 2h ниже поверхности Р. Тогда изображение точки а'2 на сетке окуляра 5будет на расстоянииh' от оси микроскопа Б , равном
h' =2*x*h*sm45°, (5)
где х — увеличение объектива 4.
Для измерений высоты неровностей в микроскопе Б установлен окулярный микрометр.
Двойной микроскоп В. П. Линника позволяет также фотографировать исследуемую поверхность с высоты неровностей от 0,9 до 60 мкм.
Для измерения микронеровностей от 0,1 до 6 мкм с увеличением от 400 до 500 применяют микроинтерферометры В. П. Линника с интерференционными полосами, соответствующими профилю исследуемой поверхности в данном сечении (рис. 6). С помощью окуляра производят отсчеты величины а, выражающей величину высоты микронеровностей, и отсчет величины b, соответствующей расстоянию между двумя соседними интерференционными полосами, тогда высота микронеровности
h=0.25*(a/b),мкм. (6)
Для определения шероховатости поверхности в труднодоступных местах применяют метод снятия с исследуемой поверхности слепков, шероховатость поверхности которых служит в дальнейшем критерием оценки с помощью указанных выше приборов. Искажение профиля исследуемой поверхности при снятии слепка практически не превышает 2 - 3%.
В качестве материалов для слепков обычно применяют целлулоид, растворяемый в ацетоне. Для получения слепка целлулоид опускают на непродолжительное время (2 — 3 мин} в ацетон, затем прикладывают к исследуемой поверхности и сушат в течение 10 — 50 мин (в зависимости от шероховатости обработанной поверхности).
При технологической целесообразности для оценки микрогеометрии поверхности применяют также метод среза.
Исследуемую поверхность покрывают слоем хрома толщиной 5—10 мкм, а затем производят срез под углом 1 — 2°; срезанную плоскость травят, после чего фотографируют.
Фотоснимок представляет собой профилограмму, у которой горизонтальным увеличением является увеличение, полученное при фотографировании, а вертикальным является горизонтальное увеличение, умноженное на увеличение, полученное от косого среза.
Увеличение от косого среза при угле среза 1° составляет 60, а при угле среза 2° — 30 раз. С помощью косого среза можно получить профилограмму с вертикальным увеличением до 8000.
6 Зависимость шероховатости поверхностей и
точности от видов
обработки
Практикой и исследованиями определены взаимосвязи между видами обработки и шероховатостью (классами чистоты) поверхности. Так, например, установлено, что средняя высота неровностей не должна превышать 10 — 25% от допуска на обработку. Это позволило установить достижимую чистоту поверхности для различных видов обработки, а с учетом затрат, необходимых для достижения заданной чистоты, не превышающих затрат при любом другом способе обработки, и экономически достижимую чистоту поверхности.
7 Список использованной литературы.
1. Основы технологии машиностроения: Учебник для вузов /В.М. Кован,
В.С. Корсаков и др.; Под ред. Корсакова. -изд. 3-е, доп. И перераб. -М.:
"Машиностроение", 1977; 336 с.с ил.
2. Технология машиностроения: В 2 т. Т. 1. Основы технологии
машиностроения: Учебник для вузов /В.М. Бурцев, А.С. Васильев,
А.М. Дальский и др.; Под редакцией А.М. Дальского. - 2-е изд., стереотип.
-М.:Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2001; 564 с., ил.