Реферат: Характеристики числовых показателей нерезервированного устройства

· Для диодов-0.94

· Для микросхем-0.98

· Для транзисторов -0.51

Выбранные по таблицам 1, 2 значения λ Oi , для используемых в модуле ЭРИ, и количество элементов каждого типа ЭРИ - mi заносятся в таблицу 3.

Таблица 3.- Интесивности отказов по типам элементов

Тип элементов Обозначение Номинальная интенсивность отказа λOi *10-6 , 1/ч Количество mi,, шт

Резисторы

λ

Диоды

λ

Конденсаторы

λ

Микросхемы

λOмкс
Транзисторы λOтр
Печатная плата λOпп

0,7 10 -6

Паяное соединение λOпс
Соединитель λOсо Например. 1соед., но 45 контактов. Берется число контактов.
Кварц λOкв
............. λOi
............ и т.д. λOi

Используя полученные данные, вычисляется по формуле (1) интенсивность отказов каждого типа элементов.

Интенсивность отказов резисторов

λр = λ O р k a р ( T , kH )10-6 , 1/ч

Интенсивность отказов конденсаторов

λс = λ O с k a с ( T , kH ) 10-6 , 1/ч

Интенсивность отказов диодов

λд = λ O д0 k a д ( T , kH ) 10-6 , 1/ч

Интенсивность отказов микросхем

λмс = λ O мс k a мс ( T , kH ) 10-6 ,

Интенсивность отказов транзисторов

λт = λ O т k a т ( T , kH ) 10-6 , 1/ч

Интенсивность отказов печатной платы

λпп = 0,7 10 -6 , 1/ч

Интенсивность отказов паяных соединений

λпс = λ O пс k a пс ( T , kH ) 10-6 , 1/ч


Интенсивность отказов соединителей

λсо = λ O со k a со ( T , kH ) 10-6 , 1/ч

Интенсивность отказов кварца

λкв = λ O кв k a кв ( T , kH ) 10-6 , 1/ч

К-во Просмотров: 257
Бесплатно скачать Реферат: Характеристики числовых показателей нерезервированного устройства