Реферат: Микроэлектроника и функциональная электроника (разработка топологии ИМС)

R5 – 3300 Ом.

2) допустимая погрешность DR.

Исходя из технологических возможностей оборудования выберем DR = 20%

3) рабочий диапазон температур (Tmin , Tmax ).

Исходя из предположения, что разрабатываемая ИМС будет предназначена для эксплуатации в климатических условиях, характерных для широты Украины, выберем диапазон температур, определяемый климатическим исполнением УХЛ 3.0 (аппаратура, предназначенная для эксплуатации в умеренном и холодном климате, в закрытых помещениях без искусственно регулируемых климатических условий). Исходя из этого:

Tmin = -60 °С;

Tmax = +40 °С.

4) средняя мощность Р, которая рассеивается на резисторах.

Мощность, рассеиваемая на резисторах, будет расчитана на основе измерянных ранее токов через резисторы, используя закон Ома.

P = I2 R, ( 5.1)

где I – ток через резистор, А;

R – сопротивление резистора, Ом.

Измерянные значения токов несколько увеличим для учета возможных скачков входных токов схемы:

Табл. 6.1 Расчет мощностей резисторов

Значение тока IR 1-4 , мА 0,26
IR 5 , мА 4,94
Увеличенное значение тока I ’R1-4 , мА 0,5
I ’R5 , мА 5
Расчитанная мощность РR 1-4 , мВт 1,175
РR 5 , мВт 82,5

5.3. Последовательность расчета топологических параметров параметров полупроводниковых резисторов.

Для расчета параметров интегральных резисторов используется написанная для этих целей программа, значения рассчитанных параметров, приведенные ниже, расчитаны с ее помощью.

1. Выбираем тип резистора, исходя из его номинального сопротивления. В расчитываемой схеме все резисторы целесообразно изготовить дифузионными, сформированными в базовом р-слое.

2. Расчитываем удельное поверхностное сопротивление:

( 5.2)

где Na 0 – концентрация акцепторов у поверхности базы, см-3 ;

N – концентрация акцепторов в базе, см-3 ;

Nдк – концентрация доноров в коллекторном слое, см-3 ;

q – единичный заряд, Кл;

m - подвижность носителей заряда, см2 /В·с;

W – глубина коллекторного p-n перехода, мкм;

Для расчета принимаем Na 0 = 8*1018 см-3 ; Nдк = 1016 см-3 ; значения интегралов расчитываются численными методами на основе существующих зависимостей подвижности носителей от их концентрации. В результате rS = 222,81 Ом/. Типичное значение поверхностного сопротивления базовой области - 200 Ом/, расчитанное значение показывает приемлемость использования выбранных концентраций.

3. Рассчитываем коэффициент формы резисторов и его относительную погрешность:

( 5.3)
( 5.4)

где DrS /rS – относительная погрешность воспроизведения удельного поверхностного сопротивления легированного слоя, которая вызвана особенностями технологического процесса, для расчета примем ее равной 0,05; ТКR – температурный коэффициент сопротивления базового слоя, он равен 0,003 1/°С.

Результаты расчета следующие:

R1 - R4 : КФ = 21,094; DКФ / КФ = 0,00474
R5 : КФ = 15,719; DКФ / КФ = 0,00636

4. Рассчитаем минимальную ширину резистора bточн , которая обеспечит заданную погрешность геометрических размеров:

( 5.5)

где Db – погрешность ширины резистора;

К-во Просмотров: 303
Бесплатно скачать Реферат: Микроэлектроника и функциональная электроника (разработка топологии ИМС)