Реферат: Микросхемо-техника: Схема контроля дешифратора на три входа восемь выходов
Расчет надежности проводится по следующим показателям:
-
интенсивность отказов изделия
lобщ.=Sliо*ni
где N - число групп «компонентов надежности», имеющих разные интенсивности отказов;
liо - интенсивность отказов элемента i-ой группы;
ni - количество элементов в i-ой группе.
-
время наработки на отказ
F=1/lобщ.
-
вероятность безотказной работы
- lобщ.t
P(t)=e
подсчитывается для t=100,1000,10000
Все это заносится в табл.7, для ИМС liо, было взято из [ 4 ]
Таблица 7.
|
Группа элементов |
Интенсивность отказов liо , 1/ч |
Кол-во элементов n | liо*n |
|
ИМС |
8,5*10^-7 |
7 |
59,5*10^-7 |
|
C1 |
0,50*10^-6 |
1 |
0,50*10^-6 |
|
С2 - С8 |
К-во Просмотров: 1438
Бесплатно скачать Реферат: Микросхемо-техника: Схема контроля дешифратора на три входа восемь выходов
|