Реферат: Разработка аппаратной части систем измерения скалярных параметров СВЧ устройств на базе современных микроконтроллеров

2 Требования к разрабатываемой системе и постановка задачи 17

2.1 Постановка задачи 17

2.2 Требования к разработке аппаратной части 17

2.3 Требования к разработке программного обеспечения 17

3 Техническое задание 18

3.1 Основание для проектирования 18

3.1.1 Состав каждого комплекта прибора и требования к конструкции 18

3.2 Тактико-технические требования 19

3.2.1 Требования к параметрам и характеристикам измерителей коэффициента передачи и отражения (приборы группы Р2-). 20

3.2.2 Режимы работы приборов группы Р2-. 20

3.2.3 Пределы допускаемой основной погрешности измерений 21

3.2.4 Требования к техническому уровню 22

3.2.5 Требования к надежности 22

3.2.6 Требования к технологичности конструкции 23

3.2.7 Требования к уровню унификации и стандартизации 23

3.2.8 Эстетические и экономические требования 23

3.2.9 Условия эксплуатации. 23

3.2.10 Требования к упаковке и маркировке 23

4 Разработка аппаратной части измерительной системы Р2- «Растр» 25

4.1 Выбор структуры измерительной системы Р2- «Растр» 25

4.2 Обоснование выбора технических средств 27

4.3 Разработка принципиальной схемы 31

5 Расчет надежности 35

Заключение 37

Список используемых источников 38

Приложение А – Исходные данные для расчета надежности. 39

Приложение Б – Расчет надежности измерительной части Р2- «Растр». 41

спецификация 42