Министерство Промышленности и Энергетики РФ

Реферат

Средства отладки электронных схем

Выполнил студент 412 группы:

Боровков И.А.

Проверил:

Волков А.В.

Иваново

2004

Содержание:

Введение 3

1. Средства отладки для микроконтроллеров семейства HC05 3

1.1 Внутрисхемные симуляторы 5

1.2 Внутрисхемные эмуляторы 7

1.3 Программаторы 10

1.4 Средства разработки третьих фирм 11

2. Отладочные средства БИС 12

2.1 Средства разработки электронных схем 12

2.2 Прототипные платы схем программируемой логики с ISA 13

2.3 Прототипные платы схем программируемой логики с PCI 13

2.4 Платы разработчика для схем программируемой логики с PCI 14

2.5 Оборудование для контроля и отладки проектных плат 15

2.6 Комплекс средств тестирования методом граничного

сканирования JTools 16

2.7 Комплекс средств тестирования методом граничного

сканирования (дополнительно) 17

Заключение 18

Список используемой литературы 19

Введение

Сегодня промышленность шагнула далеко вперед в производстве интегральных схем, это видно, из того, что размеры микросхем уменьшаются, а производительность и характеристики возрастают в положительную сторону. Но в связи, с этим, возникает один недостаток, микросхемы усложняются по своей структуре и функциональному предназначению. И как следствие возникает проблема контроля выхода годных интегральных схем и выявление причин возникающих неполадок.

Денежные и трудовые затраты на тестирование сложных интегральных схем с привлечением контрольно-измерительной аппаратуры может во много раз превышать стоимость интегральной схемы из-за длительности процесса тестирования и сложности его реализации. Производить тестирование на модели разрабатываемой интегральной схемы существенно удешевляет процесс тестирования и сокращает время его проведения.

Реальные образцы создаются на основе проекта интегральных схем, разработанного на этапах логического и топологического проектирования. И затем, каждый образец должен пройти функциональный контроль, устанавливающий правильность его работы.

При тестировании на математической модели или реальном образце обнаруживаются неисправности интегральной схемы путем анализа состояний ее выхода на определенных наборах входных сигналов. Успешное решение задачи тестирования интегральной схемы на всех стадиях проектирования и изготовления определяет в конечном итоге ее важнейшие характеристики, такие как: 1. бездефектность проектирования; 2. надежность работы; 3. устойчивость работы; 4. стоимость образцов; и др.

Можно выделить два вида тестирования интегральных схем:

1. функциональное тестирование, осуществляемое на всех этапах разработки логической схемы;

2. функциональный контроль правильности работы образцов интегральных схем после их изготовления.

В данном реферате будут рассмотрены средства отладки для микроконтроллеров семейства HC05 и БИС PLD FLEX10K и др.

--> ЧИТАТЬ ПОЛНОСТЬЮ <--