Реферат: Технология получения и физические свойства тонких пленок

3) за счет изменения относительной ориентации внешнего электрического поля и равновесного вектора антиферромагнетизма можно целенаправленно изменять тип распространяющейся ТМ- волны с прямого на обратный, т.е. влиять на направление потока энергии переносимого распространяющейся объемной электромагнитной волной вдоль магнитной пластины с заданной нормалью к поверхности пленки ;

4) в случае одновременного учета как электродипольного механизма косвенного спин-спинового взаимодействия также и неоднородного обмена, в зависимости от геометрии распространения постоянное электрическое поле может приводить к формированию при точки минимума на дисперсионной кривой объемной магнонной моды Е - типа с заданным номером (Рис. 1 a) или к кроссоверу (Рис. 1 b) дисперсионных кривых объемных электродипольноактивных спин-волновых мод с разными номерами (- проекция волнового вектора рассматриваемой волны на направление распространения). Найдено взаимно однозначное соответствие между локальной геометрией поверхности рефракции нормальных кулоновских ТМ- поляритонов в неограниченном антиферромагнетике и структурой спектра этого типа волноводных колебаний в антиферромагнитной пластине.

В частности, в рассматриваемом случае , распространяющаяся вдоль АФМ пленки толщиной 2d () объемная спиновая волна будет волной обратного типа, если проекция внешней нормали к поверхности рефракции (Рис 2 a, b) на ось OY в точке пересечения этой поверхности с прямой имеет отрицательный знак, если же проекция положительна, то соответствующая волна при заданных частоте, волновом числе и номере моды будет волной прямого типа. Если же при некотором эта проекция на ось OY равна нулю, то такая ситуация имеет место в случае, когда на дисперсионной кривой объемной моды с номером , бегущей вдоль поверхности пленки толщиной 2d, на заданной частоте и значении волнового числа имеется экстремум для этого.

a) b)

Рис. 1 Спектр дипольно – обменных объемных магнонов Е -типа: a- для, , (.), b – для () , - частоты антиферромагнитного резонанса при и соответственно.

a) b)

Рис. 2 Структура поверхностей волновых векторов кулоновских ТМ -поляритонов a- для , b- для . Номер поверхности соответствует номеру моды.

Будет эта точка максимумом или минимумом определяется знаком локальной гауссовой кривизны поверхности рефракции (при или ) в этой точке.

Литература

1. Ю.Е. Рогинская и др. ЖЭТФ. 43, 3(9). 69 (1966).

2. А.К. Звездин, А.П. Пятаков УФН. 174, 4. 465 (2004).

3. J. Wang et al. Science. 299, 1719 (2003).

4. J. Li et al. Appl. Phys. Lett. 84 5261 (2004).

5. D. Lee et al. Appl. Phys. Lett. 86, 222903 (2005).

6. А.П. Пятаков. Бюллетень МАГО, том.7, №2 (2006) (http://rusmagnet.ru/bulleten.htm )

7. M.K. Singh, H. Ryi, H.M. Jang. Phys. Rev. B 72, 132101 (2005).

8. А.Ф. Ревинский и др. Сборник научн. тр. II МНК «Материалы и структуры современной электроники», г. Минск, 5–6 октября 2006 г. Мн.: БГУ (2006) с. 25-29.