Дипломная работа: Кристалохімія атомних дефектів у напівпровідниках структури сфалер
При надлишку халькогену відповідно:
(4.3.)
(4.4)
Таким чином, надлишок телуру обумовлює утворення акцепторних рівнів і додаткових дірок, тобто, матеріалу р-типу.
Одержані результати визначення типу провідності для процесів нестехіометрії узгоджується із експериментальними приведеними в роботі [16].
4.2. Процеси легування
4.3.
а) легування киснем. При суперпозиції антиструктури з киснем отримаємо такий кристалоквазіхімічний кластер:
(4.5)
Суперпозиція матриці з даним кристалоквазіхімічним кластером приведе до наступного:
(4.6)
Отже, легування (адсорбція) телуриду кадмію киснем приводить до заміщення вакансії халькогена киснем з утворенням акцепторних центрів , що і обумовлює діркову провідність.
б) легування хлором. При суперпозиції антиструктури з хлором отримаємо такий кристалоквазіхімічний кластерза механізмом заміщення:
(4.7)
???????????? ??????? ? ????? ????????????????????? ????????? ??????? ?? ??????????:
(4.8)
У випадку вкорінення хлору одержимо такий кластер:
(4.9)
Так як , тоді при суперпозиції основної матриці з кластером (4.9) отримаємо:
(4.10)
Отже, легування телуриду кадмію хлором приводить до заміщення вакансій телуру хлором і часткового проникнення хлору в ОП підгратки аніону з утворенням акцепторних центрів і діркової провідності. Одержані кристалоквазіхімічні результати не підтверджують донорну дію хлору в CdTe наведену в роботі [23]. Це пояснюється можливим утворенням акцепторних комплексів і нейтральних , тоді як ізольованих залишається дуже мало, що і обумовлює донорну дію хлору.
в) легування індієм. З врахуванням донорної дії In в CdTe [23], кристалоквазіхімічний аналіз досліджували за механізмом заміщення атомів індію вакансій кадмію в основній матриці (механізм заміщення) та вкорінення індію у міжвузля, тобто в ТП або ОП порожнини (механізм вкорінення).
Механізм заміщення. Суперпозиція індію із антиструктурою основної матриці утворює кластер:
(4.11)
Враховуючи електронну конфігурацію 4d10 5s2 5p1 (In) і його зарядовий стан (In+1 , In+3 , 2In+2 «In+3 + In+1 ) отримаємо:
(4.12)
(4.12')
При суперпозиції основної матриці з кластером (4.11) одержимо наступні вирази. Кластер (4.12') для спрощення запису опускаємо:
(4.13)
Таким чином, утворений матеріал (5.13) характеризується електронною провідністю, яка обумовлена вакансіями в аніонній підгратці.
За механізмом вкорінення легуючий кластер має вигляд:
(4.14)
При суперпозиції одержимо: