Курсовая работа: Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии
Тольяттинский Государственный Университет
Электротехнический факультет
Кафедра “Промышленная электроника"
КУРСОВАЯ РАБОТА
"ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 155 СЕРИИ"
Студент: Моторин С.К.
Группа: Э-506
Преподаватель: Бредихин Б.В.
Тольятти 2004
Содержание
Введение
1. Техническое задание
2. Инженерная интерпретация задачи
3. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма работы контроллера
4. Разработка интерфейса программно-аппаратного комплекса
5. написание подпрограммы тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1
6. Выбор расчет элементов схемы
Заключение
Список литературы.
Введение
В настоящее время, производство радиоэлектронных компонентов и микросхем очень распространено. Однако при их производстве возникает вопрос работоспособности изготовленного элемента. Так как качество получаемого элемента зависит от внутренней структуры материала, в которой могут быть дефекты. В данном случае элемент окажется неработоспособным. Поэтому необходимо после изготовления проводить испытания, по результатам которых делать выводы о работоспособности элемента. Устройства, проводящие проверку правильности функционирования, называют тестерами. При проверке работоспособности интегральных микросхем целесообразно использовать универсальные тестеры, способные тестировать несколько типов микросхем. Задачей данного курсового проекта является разработка программно-аппаратного комплекса для тестирования интегральных микросхем 155 серии.
1. Техническое задание
Разработать программно-аппаратный комплекс (микропроцессорный контроллер) для тестирования интегральных микросхем. Тестер должен выполнять функциональный контроль интегральных схем по принципу "годен" - "не годен". Тестированию подвергаются интегральные микросхемы, имеющие корпус DIP14 с 14 выводами и стандартное подключение питания: 14 вывод - "+5В", 7 вывод - "общий". Общее число типов проверяемых интегральных схем не более 256.
Составить подпрограмму тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1.
2. Инженерная интерпретация задачи
Для разработки программно-аппаратного комплекса тестера использовали микроконтроллер КМ1816ВЕ51. Основные параметры микроконтроллера приведены в табл.2.1, условное графическое изображение - на рис.2.1
Таблица 2.1
Основные параметры микроконтроллера КМ1816ВЕ51
| Название параметра | Значение параметра |
| Объем резидентной памяти программ, Кбайт | 4 |
| Объем резидентной памяти данных, байт | 128 |
| Частота тактовых импульсов, МГц | 12 |
| Число портов ввода/вывода, шт | 4 |
| Напряжение питания, В | +5 |
Интегральная микросхема, для которой необходимо написать программу тестирования - К155ЛА1. Микросхема представляет собой два логических элемента 4И-НЕ. Таблица истинности элемента 4И-НЕ представлена в табл.2.2, условное графическое изображение показано на рис.2.2
Таблица 2.2
Таблица истинности элемента 4И-НЕ.
| Входы | Выходы | |||
| X1X5 | X2X6 | X3X7 | X4X8 | Y1Y2 |
| 0 | 0 | 0 | 0 | 1 |
| 0 | 0 | 0 | 1 | 1 |
| 0 | 0 | 1 | 0 | 1 |
| 0 | 0 | 1 | 1 | 1 |
| 0 | 1 | 0 | 0 | 1 |
| 0 | 1 | 0 | 1 | 1 |
| 0 | 1 | 1 | 0 | 1 |
| 0 | 1 | 1 | 1 | 1 |
| 0 | 0 | 0 | 0 | 1 |
| 0 | 0 | 0 | 1 | 1 |
| 0 | 0 | 1 | 0 | 1 |
| 0 | 0 | 1 | 1 | 1 |
| 0 | 1 | 0 | 0 | 1 |
| 0 | 1 | 0 | 1 | 1 |
| 0 | 1 | 1 | 0 | 1 |
| 0 | 1 | 1 | 1 | 0 |
Питание микроконтроллера осуществляется через вывод 40, а микросхемы К155ЛА1 через вывод 14. Общий вывод микроконтроллера вывод 20, а микросхемы К155ЛА1 вывод 7.
 |
??????? ??????????? ???????????????? ??1816??51
Рис.2.1.
Схемное изображение интегральной микросхемы К155ЛА1
 |
1,2,4,5,9,10,12,13 - входы X1-X8; 6 - выход Y1; 7 - общий; 8 - выход Y2; 14 - напряжение питания;
--> ЧИТАТЬ ПОЛНОСТЬЮ <--