Реферат: Микроинтерферометрия для контроля и оценки трехмерных дефектов

При одинаковом времени экспозиции прозрачность полученного негатива по амплитуде определяется как

I = I1 + I2 = 2(E2n + E2O) + 2EnEO(cos1+cos2) .

Малейшее изменение формы объекта из-за деформации в промежутке между двумя экспозициями изменяют фазу предметной волны. При восстановлении результирующей голограммы два восстановленных изображения интерферируют, образую голографическую интерферограмму. На результирующем восстановленном изображении изделия появляются интерференционные полосы, характеризующие изменение объекта между экспозициями.

Недостатком такого метода является то, что контроль осуществляется не в реальном масштабе времени.

Свободным от этого недостатка является метод получения интерферограмм, когда предметная волна от реального объекта интерферирует с волной, восстановленной с голограммы объекта в начальном состоянии (эталонной голограммы). Изменяющиеся во времени интерференционные картины, наблюдаемые непосредственно на самом объекте, регистрируются в этом случае с помощью фото- или теле-аппаратуры, что позволяет изучать нестационарные процессы в объекте, которые могут являться следствием возникающих деформаций в объекте (механические усилия, изменение температуры на объекте, давления в окружающей среде и т.д.).

Рис. 9. Двулучевая (а), однолучевая (б) схемы голографирования и схема со встречными волнами (в); г - схема восстановления изображений;

1 - источник излучения; 2 - светоделитель; 3 - объектив; 4 - отражатели; 5 - исследуемое изделие; 6 - фотопластинка; 7 - голограмма; 8 – мнимое изображение; 9 - действительное изображение; 10 - плоскость приёма изображения


ЛИТЕРАТУРА

1. Давыдов П. С. Техническая диагностика радиоэлектронных устройств и систем. - М.:Радио и связь, 2000. - 256 с.

2. Ермолов И.Н., Останин Ю.Я. Методы и средства неразрушающего контроля качества: Учеб. пособие для инженерно-техн. спец. вузов.-М.: Высшая школа, 2002. - 368 с.

3. Технические средства диагностирования: Справочник / Под общ. ред. В.В.Клюева. - М.: Машиностроение, 2005. - 672 с.

4. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. - Справоч­ник. В 2-х кн./ Под ред. В.В.Клюева - М.: Машиностроение, 2006.

5. Ж.Госсорг. Инфракрасная термография. Основы, техника, применение: Пер. с франц. – М. Мир, 2005. – 416 с.

К-во Просмотров: 258
Бесплатно скачать Реферат: Микроинтерферометрия для контроля и оценки трехмерных дефектов