Реферат: Системные критерии технического уровня и качества изделий

где V_г - объем газа в блоке, дм³ ;

р – величина перепада внутреннего и внешнего давления (избыточного давления) в блоке, Па (1 Па=7,5 мкм рт.ст.);

t - срок службы или хранения, с.

Для блоков с объемом V_г =0,15…0,2 дм³ в ответственных случаях при выдержке нормального давления к концу срока службы (8 лет) требуется D=6,65*10^-6 дм³ *Па/с (или 5,5*10^-5 дм³ *мкм рт.ст/с), в менее ответственных случаях полная вакуумная герметизация не обеспечивается и степень герметичности может быть уменьшена до значения 10^-3 дм³ *мкм.рт.ст/с.

В группе относительных показателей находятся коэффициенты дезинтеграции объема и массы, показатель функционального расчленения, величина перегрузки конструкции при вибрациях и ударах, а также многие параметры технологичности конструкции такие, как коэффициенты унификации и стандартизации, коэффициент повторяемости материалов и изделий электронной техники, коэффициент автоматизации и механизации и др. Последние достаточно хорошо известны из технологических дисциплин, поэтому повторять их содержание и влияние на качество конструкции не станем.

Как уже отмечалось выше при рассмотрении плотности упаковки, в конструкциях РЭС разного уровня компоновки присутствуют потери полезного объема, а следовательно, и масс при корпусировании ИС, компоновке их в ячейки и далее в блоки, стойки. Уровень их может быть весьма значительным (в десятки и сотни раз). Оценки этих потерь (дезинтеграции) объемов и масс проводится с помощью коэффициентов дезинтеграции q_V и q_m соответственно, выражаемые как отношение суммарного объема (массы) конструктива к его полезному объему (массе), или

q_V =V/V_N , q_m =m/m_N , (4)

где V_N =SV_с.э ., m_N =Sm_с.э . – полезный объем и масса схемных элементов.

При переходе с одного уровня компоновки на более высший уровень коэффициенты дезинтеграции объема (или массы) q_{V ( m )} показывают, во сколько раз увеличиваются суммарные объем (или масса) комплектующих изделий к следующей конкретной форме их компоновки, например при переходе от нулевого уровня – корпусированных микросхем к первому – функциональной ячейке имеем q_{V ( m )} =V(m)_ФЯ /SV(m)_ИС , при переходе от уровня ячейки к блоку q_{V ( m )} = V(m)_б /SV(m)_ФЯ и т.д., где V(m)_ИС , V(m)_ФЯ , V(m)_б – соответственно объемы (или массы) микросхемы, ячейки, блока.

Как и в случае критерия плотности упаковки заметим, что коэффициенты дезинтеграции реально отражают качество конструкции, в частности ее компактность, но и они не могут быть использованы для сравнения конструктивов, если они относятся к разным поколениям, разным уровням конструктивной иерархии или ЭС различного назначения и принципа действия.

Анализ существующих наиболее типовых и компактных конструктивов различных поколений и различного назначения позволил получить средние значения их коэффициентов дезинтеграции объема и массы (табл. 1). там же приведены значения удельной массы конструктивов.

Показатель функционального разукрупнения конструкции представляет собой отношение количества элементов N в конструктиве к количеству выводов М из него, или ПФР=N/M. Например для цифровой бескорпусной МСБ, содержащей 12 бескорпусных ИС с 40 элементами в каждом кристалле (N=40*12=480 элементов) и 16 выходными площадками, имеем ПФР=480/16=30. Чем выше ПФР, тем ближе конструкция к конструктиву высокой интеграции, тем меньше монтажных соединений между ними, тем выше надежность и меньше масса и габариты. Наибольшее число функций и элементов монтажа "вбирают" в себя БИС¢ы и СБИС¢ы. Однако и у них есть предел степени интеграции, оговариваемый именно количеством допустимых выводов от активной площади кристалла к периферийным контактным площадкам.

Таблица 11.1.

Вариант конструктива	qV		qm		Уд. масса конструкции, г/см3
	*КТЕ-ФЯ	Я-Б	КТЕ-ФЯ	Я-Б
Блок разъемной констру-кции из ФЯ на печатных платах с ИС в корпусах II типа (цифровой)	10,2	1,8	4,7	0,5	0,5
Блок книжной конструкции из ФЯ на печатных платах с ИС в корпусах IV типа (цифровой)	6,4	1,8	3,2	1,3	0,52
Блок книжной конструкции из ФЯ на бескорпусных МСБ (цифровой) при: - односторон. компоновке - двухсторон. компоновке	11 5,6	1,9 1,9	7,7 4,8	3,0 3,0	1,07 1,2
Субблок пенальной конструкции на корпусированных ИС (аналоговый)	10,5	-	6,6	-	0,6
Субблок пенальной конст-рукции на бескорпусных МСБ (аналоговый)	17,4	-	11,5	-	1,6
« 1 2 3 4 5 6 » К-во Просмотров: 331 Бесплатно скачать Реферат: Системные критерии технического уровня и качества изделий >>> Скачать <<< Меню Поиск