Курсовая работа: Структурный анализ системы
Министерство образования Республики Беларусь
Учреждение образования
" Брестский государственный университет имени А.С. Пушкина"
Физический факультет
Кафедра общей физики
Структурный анализ системы
Выполнил студент 3 курса гр.
Научный руководитель:
Брест, 2010 г
Оглавление
Введение
1. Рентгеноструктурный анализ
2. Кристаллическая структура и дифракция
3. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
4. Методы рентгеноструктурного анализа
4.1 Метод Лауэ
4.2 Метод вращения монокристалла
4.3 Метод порошка
5. Компьютерные программы уточнения параметров элементарной ячейки
6. Структурные характеристики элементарных ячеек системы веществ Gdx Bi1- x FeO3
Заключение
Список использованной литературы
Приложения
Введение
Предмет рентгенографии - решение основной задачи структурного анализа при помощи рассеяния (дифракции) рентгеновского излучения. Основная задача структурного анализа - определить неизвестную функцию микрораспределения вещественного объекта (кристалла, аморфного тела, жидкости, газа). Явление рассеяния производит Фурье-анализ функции микрораспределения. При помощи обратной операции - фурье-синтеза можно восстановить искомую функцию микрораспределения. С помощью структурного анализа можно определять:
а) периодическую атомную структуру кристалла;
б) дефекты (динамические и статические) реальных кристаллов;
в) ближний порядок в аморфных телах и жидкостях;
г) структуру газовых молекул;
д) фазовый состав вещества.
Целью работы является изучение структурных характеристик элементарных ячеек системы веществ Gdx Bi1- x FeO3. Основные задачи, которые решались в ходе выполнения работы таковы: литературный обзор по теме исследования, изучение основ методов рентгеноструктурного анализа, поиск и изучение программных средств для теоретических расчетов, обработка экспериментальных рентгенограмм Gdx Bi1- x FeO3 теоретический расчет рентгенограмм, построение элементарных ячеек и уточнение их параметров.
1. Рентгеноструктурный анализ
Рентгеноструктурный анализ - метод исследования атомно-молекулярного строения веществ, главным образом кристаллов, основанный на изучении дифракции, возникающей при взаимодействии с исследуемым образцом рентгеновского излучения длины волны около 0,1 нм.
--> ЧИТАТЬ ПОЛНОСТЬЮ <--