Курсовая работа: Технология изготовления однослойных печатных плат субтрактивным методом с использованием металлорезиста (олово – свинец)
Таким образом, складывается ситуация, что с повышением уровня технологии производства печатных плат объем работ по визуальному контролю возрастает, а выполнять эти работы на необходимом уровне становится все труднее. Реальный путь преодоления этих противоречий - это автоматизация визуального контроля, то есть исключение из процедуры контроля оператора.
Автоматизация визуального контроля предполагает решение двух основных проблем - это формирование изображения контролируемого объекта, представление его в удобном для цифровой обработки виде и обработка этого изображения с целью выявления дефектов.
Первая из этих проблем решается в автоматизированных системах видеоконтроля с привлечением средств технического зрения, а вторая с использованием методов искусственного интеллекта.
Сложность решения первой проблемы состоит в большом разнообразии видов объектов контроля и несовершенстве их оптических характеристик.
Во втором случае основные трудности возникают в связи с необходимостью обработки больших объемов информации до 109 бит за относительно малое (порядка нескольких минут) время контроля.
Рассмотрим возможности и ограничения использования метода автоматизированного видеоконтроля в производстве печатных плат.
Обладая более высокой достоверностью и производительностью контроля системы автоматизированного видеоконтроля (АВК) сохраняют основные преимущества, которые присущи визуальным методам контроля.
В первую очередь - это возможность обнаружения дефектов, связанных с изменением размеров элементов рисунка, искажением формы и границ элементов. Это позволяет обнаруживать так называемые потенциальные дефекты в виде локальных заужений проводников или уменьшения зазоров по диэлектрику, то есть таких дефектов, которые в процессе эксплуатации могут развиться в обрывы или закоротки и привести к выходу платы из строя. Выявление таких дефектов существенно повышает надежность печатных плат.
Другим важным преимуществом методов визуального контроля, а следовательно, и систем АВК, является возможность контроля продукции на различных этапах технологического процесса, начиная от изготовления фотошаблонов и заканчивая ДПП. Они могут быть проконтролированы как после травления, то есть на этапе сформированного проводящего рисунка, так и этапе рисунка, сформированного в слое фоторезиста.
Это позволяет выявлять и устранять дефекты на ранних стадиях производства, когда экономические потери могут быть значительно меньше, чем при обнаружении брака в готовой плате.
Использование в системах АВК вычислительных средств дает возможность проводить статистическую обработку больших массивов данных, несущих информацию о дефектах. Системы АВК приобретают качественно новые свойства. Появляется возможность классификации дефектов, анализа их повторяемости и выявления на основании этих данных различных отклонений в технологическом процессе.
Визуальный принцип контроля накладывает на системы АВК ряд ограничений. Наиболее важным является то, что на системах АВК принципиально нельзя достигнуть стопроцентного выявления разрывов или закороток - дефектов катастрофического типа, приводящих к отказу платы.
Принцип работы системы АВК заключается в представлении изображения объекта контроля в некотором цифровом виде, то есть в виде массива двоичных элементов (пикселей). В этом случае отображение элементов изображения, размером сравнимым с размером пикселя, носит вероятностный характер. Вероятность обнаружения дефектов зависит от размера пикселя. Достаточно надежно выявляются дефекты, размер которых более чем в 2 - 3 раза превышает размер пикселя.
С уменьшением размера дефекта вероятность его обнаружения падает. При размерах дефекта близких к размерам пикселя вероятность его обнаружения составляет величину около 0,5. Следует отметить, что возможность уменьшения минимального размера регистрируемого дефекта за счет уменьшения размера пикселя, ограничено снижением производительности контроля, так как скорость контроля обратно пропорциональна квадрату размера пикселя.
Другим ограничением систем АВК является регистрация при контроле ложных дефектов. Одной из причин появления таких дефектов является наличие различных дефектов на поверхности объекта контроля, приводящих к неоднородности ее оптических характеристик. Это могут быть царапины, оксидные пятна на проводнике, неравномерность покрытий и т.д. Другой причиной появления ложных дефектов являются ошибки распознавания из-за несовершенства алгоритма контроля. Появление ложных дефектов приводит к тому, что во избежание отбраковки хорошего слоя, необходимо проводить верификацию, то есть просмотр оператором выявленных системой АВК дефектов, с целью уточнения их реальности. Эта процедура может привести к существенному снижению результирующей производительности системы.
Достоверность обнаружения дефектов и количество регистрируемых ложных дефектов - взаимосвязанные величины. Повышение процента выявления дефектов, например, за счет повышения разрешения или установки более жестких допусков на контролируемые параметры, неизбежно приводит к увеличению потока ложных дефектов, связанному с повышением чувствительности системы кон- I троля и, наоборот,,- любое загрубление чувствительности системы контроля с целью снижения потока ложных дефектов неизбежно приводит к снижению достоверности контроля. Оптимальное соотношение между достоверностью контроля и потоком ложных дефектов должно выбираться из условий применения системы кон- Iтроля.
В настоящее время в эксплуатации находится порядка 500 ав- I томатизированных систем оптического контроля, представляющих разработки более 20- зарубежных фирм. Из этого числа примерно 50% составляют разработки фирмы "Оптротэчь" - фирмы освоившей выпуск первых систем автоматизированного оптического контроля серии "Вижен-104". Примерно 25% составляют системы фирмы "Орбот" (в настоящее время эти фирмы объединились, образовав фирму "Орботех"), оставшиеся 25% составляют разработки других фирм, среди которых наиболее известны "Визионетикс" (США), I Сантор (Франция), Мания (ФРГ), Клингенберг (ФРГ), Хитачи (Япо- I ния) и т.д.
Решающее влияние на характеристики систем АВК оказывает конструкция узла формирования изображения, то есть выбранный метод освещения объекта контроля и принцип регистрации изображения.
Наиболее часто используемый принцип формирования изображения - это использование наклонного освещения и зеркально [отраженного света.
В качестве фоточувствительных элементов применяются ли- ! нейные фоточувствительные приборы с зарядовой связью. Освещение на объект обычно передается через световодную оптическую систему, формирующую освещение узкой полосы объекта контроля, [проектируемой на линейку ПЗС, и систему инфракрасных фильтров, [предотвращающих перегрев поверхности контролируемого слоя.
В таком простом варианте оптического узла формирования изображения система контроля дает большое число псевдодефектов, связанных с наличием на поверхности объекта контроля оксидных (пятен, механических повреждений в виде царапин и т.д. Кроме этого, такие системы не могут контролировать внешние слои после оправления олова, большие трудности возникают при контроле слоев с резистом. Поэтому разработчиками оптических систем контроля в последние годы были затрачены большие усилия на создание более совершенных оптических систем.
Появились комбинированные оптические системы, работающие в зеркально и диффузионно-отраженном свете, системы, работающие на эффекте флуоресценции, системы, использующие рассеяние света в подложке, лазерные системы освещения и т.д.
Одной из основных характеристик системы АВК является ее разрешение, то есть размер минимального элемента изображения i (пикселя).
В большинстве систем АВК предусмотрена возможность варьирования разрешающей способности примерно от 5 до 30 мкм. Другой важной характеристикой системы является скорость контроля. Скорость контроля зависит от выбранного разрешения и, например, при разрешении 12,7 мкм для различных систем составляет , величину от 5 до 50 дм2/мин.
Наибольшей скоростью контроля обладает система PC-1132 фирмы "Орбот" -11.5 дм /мин (при разрешении 12,7 мкм).
По функциональным возможностям почти все системы уни- I версального применения, то есть предполагают возможность контроля широкого спектра материалов объектов контроля от фото- i шаблонов до внешних слоев.
Можно выделить два принципиально различных подхода к построению автоматизированных систем видеоконтроля. Первый - L это сравнение объекта контроля с некоторым эталоном. Возможны различные формы представления эталона. Это может быть либо так [называемая "золотая" плата,, то есть тщательно проконтролированный бездефектный слой, либо файл с описанием объекта контроля, ^генерируемый системой автоматизированного проектирования ДПП, но в любом случае эталон предполагает наличие максимально полной информации о топологии объекта контроля.
Другой подход заключается в проверке определенных наиболее важных правил, которыми руководствовались конструкторы при [проектировании платы. Например, это может быть минимально допустимый зазор по диэлектрику, номинальное значение ширины , проводника и допуск на его изменение и т.д. Типичным примером ^реализации первого подхода является система контроля Р - SEE разработка фирмы DIT-MCO, а второго подхода - система Вижен-104 фирмы "Оптротэчь". Оба эти подхода имеют свои преимущества и [недостатки.
Компаторный метод контроля в принципе дает наиболее достоверные результаты контроля, однако требует для своей реализации высокоточные сканирующие системы, обеспечивающие совмещение объекта контроля и эталона. Недостатком этого метода является также необходимость наличия эталона. Определенные сложности в реализации этого метода возникают из-за проблемы допусков, то есть рисунок реальной печатной платы, в определенных пределах, может отличаться от эталона и эти отличия не должны фиксироваться как дефекты. Поэтому в своем простейшем варианте, когда поэлементно сравниваются эталонное и контролируемое изображения, компараторный метод практически не применяется.