Лабораторная работа: Модели полупроводниковых диодов

Если сечение захвата увеличить на 1% (при фиксированных N и T=300°К), то ток насыщения увеличится на 0,5%.

Если площадь поперечного сечения увеличить на 1% (при фиксированных N и T=300°К), то ток насыщения увеличится на 1%

Таким образом, чувствительность тока насыщения к изменению к площади поперечного сечения выше, чем к изменению сечение захвата.

П/п диода выполняет роль выпрямителя, пропуская ток лишь в одном направлении (выпрямитель тем лучше, чем меньше Iобр ). При комнатной температуре ток Is составляет несколько мкА для Ge диодов и несколько нА для Si диодов.

4. Исследование модели контактной разности потенциалов

Модель контактной разности потенциалов описывается следующим выражением:

NA и ND – концентрация ионизированных атомов

ni – собственная концентрация.

Т°,К N/5 N 5N
300 φК , В 0,3186 0,4020 0,4854
350 0,246 0,343 0,441
400 0,172 0,283 0,394

φК , В
Ge 0,402
Si 0,812

При смене типа материала с Ge на Si контактная разность потенциалов увеличивается.

Контактная разность потенциалов напряжение, который возникает в условии термодинамическом равновесие и ведет к прекращению диффузионного тока. При увеличении температуры, контактная разность уменьшается.

5. Исследование модели толщины ОПЗ

Модель толщины ОПЗ описывается выражением:

NA и ND – концентрация ионизированных атомов

φК – контактная разность потенциалов.

Т°,К N/5 N 5N
300 W, мкМ 1,076 0,540 0,266
350 0,945 0,499 0,253
400 0,770 0,453 0,239

Зависимость положения границ ОПЗ

а) в зависимость от концентраций в Б и Э при Т=300°К

б) в зависимости от температуры при фиксированном N.

W, мкМ
Ge 0,540
Si 0,726

При смене типа материала с Ge на Si толщина ОПЗ увеличивается.

Зависимость толщины ОПЗ при Т=300°К от U при прямом и обратном смещениях напряжения на диоде.

U, В N/5 N 5N
Прямое 0,1 0,892 0,468 0,237
0,15 0,783 0,428 0,221
0,2 0,656 0,383 0,204
0,25 0,499 0,332 0,185
0,3 0,260 0,272 0,164
Обратное -5 4,395 1,981 0,893
-10 6,122 2,749 1,234
-20 8,590 3,850 1,725
-30 10,493 4,699 2,104
-40 12,101 5,417 2,425

Толщина ОПЗ при увеличении температуры уменьшается незначительно.

Снижение высоты потенциального барьера при U>0 позволяет основным носителям пересекать область перехода, при этом они становятся неосновными носителями, создавая заметный ток (при ­Uпр , W¯). При U<0 эффекты диффузии более ощутимы, чем эффекты дрейфа (при ­Uобр , W­).


К-во Просмотров: 364
Бесплатно скачать Лабораторная работа: Модели полупроводниковых диодов