Реферат: Особенности конструирования радиотехнической аппаратуры
Диоды
КД510А
8
6
6
288
КС515А
19
11
8
1672
7.Расчет надежности схемы
Данное устройство содержит большое количество элементов и соединений, которые потенциально могут оказаться причиной отказа всего устройства в целом. Поэтому необходимо рассчитать надежность устройства, учитывая все эти элементы. Для удобства расчетов все эти элементы сведены в таблицу.
Таблица | |||
№ п/п |
Элементы схемы, подлежащие расчету | Количество, шт. |
Значение интенсивности отказов l, 1/ч |
1 |
Германиевые транзисторы | 2 | 0,6·10-6 |
2 |
Интегральные микросхемы | 1 | 2,5·10-6 |
3 |
Керамические монолитные конденсаторы | 9 | 0,44·10-6 |
4 |
Контактные площадки | 178 | 0,02·10-6 |
5 |
Кремниевые диоды | 2 | 2,5·10-6 |
6 |
Кремниевые транзисторы | 7 | 0,3·10-6 |
7 |
Металлодиэлектрические резисторы | 30 | 0,04·10-6 |
8 |
Отверстия | 197 | 0,0001·10-6 |
9 |
Пайки | 178 | 1·10-6 |
10 |
Переменные пленочные резисторы | 3 | 4·10-6 |
11 |
Печатная плата | 1 | 0,0005·10-8 |
12 |
Пленочные подстроечные резисторы | 1 | 2·10-6 |
13 |
Проводники | 68 | 0,005·10-6 |
14 |
Разъемы | 2 | 2,5·10-6 |
15 |
Электролитические конденсаторы | 14 | 1,1·10-6 |
Интенсивность отказов всей схемы можно рассчитать по формуле:
L=åln ·Nn |
где - L - интенсивность отказов всей схемы.
ln - интенсивность отказов элементов схемы.
N - количество элементов схемы.
L=l1 ·N1 +l2 ·N2 +l3 ·N3 +l4 ·N4 +l5 ·N5 +l6 ·N6 +l7 ·N7 +l8 ·N8 +l9 ·N9 +l10 ·N10 +l11 ·N11 +l12 ··N12 +l13 ·N13 +l14 ·N14 +l15 ·N15 =0,6·10-6 ·2+2,5·10-6 ·1+0,44·10-6 ·9+0,02·10-6 ·178+ +2,5·10-6 ·2+0,3·10-6 ·7+0,04·10-6 ·30+0,0001·10-6 ·193+1·10-6 ·178+4·10-6 ·3+
+0,0005·10-8 ·1+2·10-6 ·1+0,005·10-6 ·68+2,5·10-6 ·2+1,1·10-6 ·14=1,2+2,5+3,96+3,56+5+ +2,1+1,2+0,0193+178+12+0,000005+2+0,34+5+15,4=232,279305·10-6 1/ч.
где l1 - интенсивность отказов германиевых транзисторов
N1 - количество германиевых транзисторов