Реферат: Разработка блока динамического ОЗУ с мультиплексором кода адреса
Выходной ток высокого уровня в состоянии “выключено” ≤50мА.
Время передачи информации от входа до выхода ≤ 30нс.
Время цикла “запись-считывание” 100нс.
Время задержки распространения информационного сигнала на выходе относительно сигнала строба ≤45нс.
Время задержки распространения информационного сигнала на выходе относительно сигнала “разрешения выхода” от10 до 30нс.
Время сохранения информационного сигнала на входе относительно сигнала строба ≥25нс.
Длительность импульса сигнала строба ≥15нс.
Минимальная длительность тактовых импульсов 15нс.
Входная емкость 12пФ.
Потребляемая мощность ≤ 800мВт.
Напряжение питания +5В.
Минимальная наработка 50000ч.
Срок сохраняемости 12 лет.
5.Расчет надежности блока динамического ОЗУ.
Для повышения надежности ЗУ применяется код Хемминга, исправляющий одноразрядную ошибку в слове ЗУ.
В качестве показателей надежности широко применяют вероятность безотказной работы Р(t) за время t и среднюю наработку до отказа Тср.
-
Вычисляется коэффициент КDL, учитывающий эквивалентную дозу отказов различных типов в зависимости от разрядности исправляемой ошибки L. При отказах БИС ЗУ можно выделить следующие основные типы отказов: отказ всей микросхемы (доля таких отказов а1), отказ строки (доля таких отказов а2), отказ столбца (доля таких отказов а3), отказ ЭП (доля таких отказов а4)
а1=2 а2=14
а3=17 а4=42
если код исправляет одноразрядную ошибку (L=1):
где: КM- коэффициент, учитывающий число разрядов БИС ЗУ (если число разрядов nM =1, то КМ=0, иначе КМ=1); KZ- коэффициент, учитывающий тип ЗУ (для ПЗУ КZ=0.5, а для ОЗУ КZ=1); E- информационная емкость БИС ЗУ (в битах).
-
Определение вероятности безотказной работы ЗУ Р(t).
Вероятность безотказной работы – это вероятность того, что в пределах заданной наработки, т.е. заданного интервала времени , отказ объекта не возникнет.
где: nO- разрядность слова ЗУ; λМ- интенсивность отказов БИС ЗУ;
NR- число строк в БИС ЗУ в ЗУ; λZ- интенсивность отказов схем обрамления и элементов конструкции ЗУ (например, паек, контактов соединителей, линий связи, печатного монтажа и т.п.)
КР1, КР2- поправочные коэффициенты, используемые для компенсации погрешностей в ЗУ с большим и средним числом БИС ЗУ. КР2- значение коэффициента определяется в зависимости от типа ЗУ и разрядности исправляемой ошибки
( для ОЗУ с L=1 если nM=1 то КР2=1); КР1- значение коэффициента в зависимости от nM (при nM=1 то КР1=1).