Реферат: Расчёт и проектирование маломощных биполярных транзисторов
¦max - максимальная частота генерации;
hkp - толщина кристалла;
hэ , hk — глубина вплавления в кристалл эмитера и коллектора;
Ln , Lp - средние диффузионные длины электронов и дырок;
Lнб , Lнэ средние диффузионные длины не основных носителей в базе и эмитере;
Nб , Nk , Nэ — концентрации примесей в базе, коллекторе и эмитере сплавного транзистора;
Nб (х ) - концентрация примеси, формирующей проводимость базы дрейфового транзистора;
Nэ (x ) - концентрация примеси, формирующей проводимость эмиттера дрейфового транзистора;
ni - равновесная концентрация электронов в собственном полупроводнике;
nn, np - равновесные концентрации электронов в полупроводниках n - типа и p - типа;
Р - мощность, рассеиваемая в коллекторе;
Pk max - предельно допустимая мощность, рассеиваемая в коллекторе;
Рэ - периметр эмитера;
Рn , Рp - равновесные концентрации дырок в полупроводниках n -типа и p - типа;
Rб , Rэ , Rк - радиусы электродов базы, коллектора, эмитера;
Rm , - тепловое сопротивление;
rб - эквивалентное сопротивление базы;
rб ’ , rб ’’ - омическое и диффузное сопротивление базы;
rэ - сопротивление эмитера без учета эффекта Эрле;
rэ ’ - сопротивление эмитера с учетом эффекта Эрле;
S — скорость поверхностной рекомбинации;
Т — абсолютная температура;
Тк — температура корпуса транзистора;
Тmax - максимально допустимая температура коллекторного перехода;
W - геометрическая толщина базы;
Wg — действующая толщина базы;
Uэб - напряжение эмитер-база;
Uкб - напряжение коллектор-база;
Ukpn - контактная разность потенциалов;