Курсовая работа: Разработка конструкции топологии и технологического процесса изготовления интегральной микросхемы
, при Uпр б-э = 5 В.
Окончательно:
|
|
| |
VT1…VT3 |
|
|
|
Для дальнейших расчетов выберем транзистор VT5 и примем его за базовый элемент нашей ИМС.
Расчет режимов диффузии базовой области.
При двухстадийной диффузии распределение примеси подсчитывается по закону Гаусса:
,
где N – концентрация примеси, .
Q – поверхностная концентрация примеси, .
- диффузионная длина.
Учитывая, что коллектор легирован равномерно и зная концентрацию примеси на поверхности базы и под переходом Б-К (на глубине ), можно записать:
1) при Х = 0:
(1)
2) при : (2)
,
где – коэффициент диффузии на этапе разгонки базы .
– время процесса разгонки базы.
– доза легирования базы .
Из (1) и (2) получим: ;
Задаемся температурой разгонки базы:
Рис. 2. Температурная зависимость коэффициента диффузии: и - исходная и поверхностная концентрация примеси,